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致茂Chroma POGO BT 4000 測試儀

致茂Chroma POGO BT 4000 測試儀筆記本/手持式系統的LCD耐久性 : 模擬一個產品的面板元件非常態的受力按鍵的壽命測試 : 模擬在產品的生命周期內按鍵的耐久度機構密合度 : 模擬產品結構上的耐久度產品緩沖 : 模擬重復摩擦塑膠材質或觸控式面板

更新時間：2025-12-21

產品型號：POGO BT 4000

瀏覽量：2038
Chroma Multi-Hinge Tester 多組開合測試儀

Chroma Multi-Hinge Tester 多組開合測試儀針對筆記型電腦的轉軸測試待測物數量可架設10組Hinge 可擴充同時測試15組Hinge

更新時間：2025-12-21

產品型號：Multi-Hinge Tester

瀏覽量：1975
致茂Chroma HiByM 2001 Hinge 開合測試儀

致茂Chroma HiByM 2001 Hinge 開合測試儀高效能，全自動的扭轉開合測試機高速、準確及適用性能符合許多測試規范主要為筆記型電腦及其他使用時會承受重復性扭轉的產品模仿操作者每日正常使用產品時影響的機械結構動作

更新時間：2025-12-21

產品型號：HiByM 2001 Hinge

瀏覽量：1728
致茂Chroma MFM 3000 磁場電場測試儀

致茂Chroma MFM 3000 磁場電場測試儀符合所有現行的tco低頻磁場輻射測試標準（MFM 2000）可載入icniRP、en 50366、iec 62233等規范（選購），并適用于其他由icniRP衍生的低頻磁場輻射測試規范（5Hz~400 Khz）（MFM 3000）全自動權范圍測量，并可同時量測雙頻帶（VLF/ELF）（MFM 2000）頻帶I（5Hz~2 kHz）：10

更新時間：2025-12-21

產品型號：MFM 3000

瀏覽量：1769
致茂Chroma MFM 2000 磁場電場測試儀

致茂Chroma MFM 2000 磁場電場測試儀符合所有現行的TCO低頻磁場輻射測試標準（MFM2000）可載入ICNIRP、EN 50366、IEC 62233等規范（選購），并適用于其他由ICNIRP衍生的低頻磁場輻射測試規范（5Hz~400kHz）（MFM 3000）全自動權范圍測量，并可同時量測雙頻帶（VLF/ELF）（MFM2000）頻帶I（5Hz~2kHz）:10n

更新時間：2025-12-21

產品型號：MFM 2000

瀏覽量：2158

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